本科實(shí)驗(yàn)教學(xué)更關(guān)注基礎(chǔ)認(rèn)知、操作理解和實(shí)驗(yàn)流程訓(xùn)練。相比一開(kāi)始就讓學(xué)生接觸復(fù)雜的大型掃描電鏡平臺(tái)，臺(tái)式掃描電鏡更適合先承擔(dān)入門教學(xué)、樣品觀察演示和基礎(chǔ)微觀結(jié)構(gòu)認(rèn)知等任務(wù)。
這里的“入門"并不是指設(shè)備只能做簡(jiǎn)單觀察，而是指教學(xué)場(chǎng)景需要把復(fù)雜的掃描電鏡流程拆解成學(xué)生能理解、能參與、能記錄的實(shí)驗(yàn)過(guò)程。
本科教學(xué)中的掃描電鏡實(shí)驗(yàn)通常有幾個(gè)特點(diǎn)：學(xué)生人數(shù)多，實(shí)驗(yàn)時(shí)間有限，樣品類型相對(duì)基礎(chǔ)，課程目標(biāo)更重視理解原理和觀察方法。教師希望學(xué)生能夠理解電子顯微成像、樣品形貌、倍率變化、圖像記錄和基礎(chǔ)元素分析，而不是被復(fù)雜的設(shè)備操作細(xì)節(jié)淹沒(méi)。
因此，本科實(shí)驗(yàn)教學(xué)更適合使用操作流程清晰、上機(jī)效率較高、結(jié)果穩(wěn)定且便于重復(fù)培訓(xùn)的掃描電鏡。臺(tái)式 SEM 在這類場(chǎng)景中的價(jià)值非常明確。
其一，臺(tái)式 SEM 更便于組織多批次教學(xué)，學(xué)生可以更快理解從樣品放置到圖像獲取的基本流程。其二，它適合常規(guī)形貌觀察，例如粉末顆粒、金屬斷面、纖維表面、陶瓷孔隙和材料表面缺陷。其三，它能幫助學(xué)生把教材中的微觀結(jié)構(gòu)轉(zhuǎn)化為真實(shí)圖像，進(jìn)一步理解微觀形貌與宏觀性能之間的關(guān)系。
如果課程需要進(jìn)一步講解元素分析，Phenom ProX 等 SEM-EDS 一體化產(chǎn)品可以用于教學(xué)演示，讓學(xué)生理解“形貌觀察"和“元素組成判斷"之間的關(guān)系。
飛納電鏡 Phenom 可用于材料類、化學(xué)類、環(huán)境類、地質(zhì)類、生物醫(yī)藥相關(guān)專業(yè)的基礎(chǔ)實(shí)驗(yàn)教學(xué)。教師可以圍繞不同樣品設(shè)計(jì)實(shí)驗(yàn)，例如觀察粉末顆粒形貌、比較不同處理?xiàng)l件下的材料表面、觀察纖維結(jié)構(gòu)、分析金屬斷口形貌或進(jìn)行基礎(chǔ) EDS 元素分析演示。
對(duì)于高校平臺(tái)來(lái)說(shuō)，Phenom Pro 可承擔(dān)常規(guī)教學(xué)觀察，Phenom ProX 可支持形貌與元素分析教學(xué)，Phenom XL 可用于較大樣品或多樣品觀察，Phenom Pharos 可作為進(jìn)階課程或科研訓(xùn)練中的高分辨觀察工具。
本科教學(xué)并不需要把所有掃描電鏡能力一次性展示給學(xué)生。對(duì)于復(fù)雜原位實(shí)驗(yàn)、極限分辨率研究、先進(jìn)半導(dǎo)體制程分析或特殊附件應(yīng)用，應(yīng)放在更高階課程或科研平臺(tái)中展開(kāi)。
臺(tái)式掃描電鏡在本科教學(xué)中更適合承擔(dān)基礎(chǔ)訓(xùn)練角色：讓學(xué)生先建立掃描電鏡認(rèn)知，理解微觀觀察方法，并掌握基礎(chǔ)樣品觀察和圖像分析流程。
本科實(shí)驗(yàn)教學(xué)適合引入臺(tái)式掃描電鏡，原因在于它更便于多批次培訓(xùn)、基礎(chǔ)形貌觀察、樣品對(duì)比教學(xué)和 SEM-EDS 入門演示。飛納電鏡 Phenom 可以作為高校本科實(shí)驗(yàn)教學(xué)和共享平臺(tái)基礎(chǔ)訓(xùn)練中的微觀觀察工具，幫助學(xué)生從看懂圖像逐步過(guò)渡到理解樣品。
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